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OLED顯示器的DC生產測試中測量誤差的來源
發布時間：
2018-04-21
測量誤差的來源是由測試系統的精度,以及在對OLED給出信號和進行測量期間所未曾想到的瞬態過程引起的.在進行快速的生產測試時,在穩定狀態下進行精確DC測量的能力,是與盡可能快地完成測試的需求相互牽制的.測試周期的時間長短是由源/測量以及開關操作組成的,而這一周期時間可以有非常大的變化范圍.比如,如果2400被設置成用最短的測試時間間隔(aperture)完成操作,即0.01NPLC,那么源/測量過程
測量誤差的來源是由測試系統的精度,以及在對OLED給出信號和進行測量期間所未 曾想到的瞬態過程引起的.在進行快速的生產測試時,在穩定狀態下進行精確DC測量的能力,是與盡可能快地完成測試的需求相互牽制的.測試周期的時間長短是 由源/測量以及開關操作組成的,而這一周期時間可以有非常大的變化范圍.比如,如果2400被設置成用最短的測試時間間隔(aperture)完成操作, 即0.01 NPLC,那么源/測量過程就可以在1ms內完成.如果把積分(integration)周期或測量時間增加到1.0 NPLC,那么測量時間就增加到大約17ms.用犧牲測試速度來增加測試時間間隔的好處是,可以得到極優的噪聲抑制,也就是在比較“安靜”的狀態下進行測試.
為了得到穩定和可重復的測量,關鍵一點是被測參數在源/測量期間達到和保持在一個穩定值上.這個概念對于OLED測試是特別重要的.OLED的電與 光的特性是與時間有關的,而且呈現出滯后效應1,2.與比較熟悉的基于半導體的光電發射器相比,OLED的電特性則非常之不同.由于這個原因,我們在試圖 設計和實現一個自動化測試系統之前,必須對測試參數的瞬態行為有一個完整的理解.瞬態過程的特性也有助于測試協議的開發,并可簡化測試數據的分析,以及增 進對測試系統的可信度.信號源延遲時間,也就是,從把信號加到OLED至測量開始之間的這一可變的時間延遲,也許可以用來降低瞬態效應.圖1表示了在測試 系統被設置為NPLC = 10以及信號源延遲從0.0005變化到10秒的條件下,對四像素同時測試時的每個像素的漏電流.為了達到小于1nA的穩態漏電流,就至少需要數秒的時間.
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